| Полное название | Антонов А.С., Михайлова О.В., Воронова Е.А., Сдобняков Н.Ю. О методике подготовки образцов для изучения фрактальной размерности и электрических свойств образцов с помощью сканирующего туннельного микроскопа // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. 2014. №6. С.15-21. |
| Тип публикации | Статья |
| Язык | Русский |
| URL | http://elibrary.ru/item.asp?id=25058941 |
| Дата публикации | 01.01.1900 |
|
РИНЦ
RSCI
Перечень ВАК
Web of Science
Scopus
Белый список Исключено из Белого списка |
|
| С участием зарубежных ученых |
Внесено в базу
01.01.1900 0:00:00