1. Мясниченко В.С., Сдобняков Н.Ю., Соколов Д.Н., Кулагин В.В., Ершов П.М., Хорт А.А., Романовская Е.В. Анализ факторов и условий формирования металлических и биметаллических кластеров на основе никеля и меди с заданной формой и структурой // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения. 2018. Т.18. №2. С.505-508.
Подробно
2. Дунаева Г.Г., Ракунов П.А., Карпенков А.Ю., Семенова Е.М. Анализ характеристик магнитных материалов по изображениям их доменной структуры // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения. 2018. Т.18. №2. С.246-248.
Подробно
3. Бакланова К.Д., Богомолов А.А., Солнышкин А.В. Анализ частотных зависимостей пирооткликов тонких пленок ЦТС (25/75) с различными верхними электродами // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения. 2015. Т.15. №2. С.221-223.
Подробно
4. Сдобняков Н.Ю., Мясниченко В.С., Соколов Д.Н. Влияние структуры и симметрии на термодинамические свойства наночастиц с «магическим» числом атомов // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения. 2014. Т.14. №2. С.91-93.
Подробно
5. Каменщиков М.В., Солнышкин А.В., Богомолов А.А., Пронин И.П. Влияние условий формирования перовскитовой фазы на электрофизические свойства тонкопленочных гетеростуктур Pt/PZT/Pt/TiO2/SiO2/Si // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения. 2013. Т.13. №1. С.181-184.
Подробно
6. Барабанова Е.В., Малышкина О.В., Топчиёв А.А., Пугачев С.И. Влияние электродов на диэлектрические свойства керамики на основе системы ЦТС // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения. 2013. Т.13. №2. С.70-73.
Подробно
7. Борисенко С.А., Иванов В.В. Исследование влияния выдержки во внутреннем поле на скачкообразные процессы переключенияв монокристаллах триглицинсульфата // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения. 2013. Т.13. №2. С.74-77.
Подробно
8. Зубреева А.А. Комплексное исследование формирования нано- и микроразмерных структур в кристалле ниобата лития LiNbО3 и физическая модель «термооптического» эффекта // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения. 2013. Т.13. №1. С.115-116.
Подробно
9. Дегтева О.Б., Косолапов Н.А., Синкевич А.И., Семенова Е.М., Иванова А.И. Магнитная доменная структура гетерогенных композиционных магнитных материалов на основе NdFeB и SmCoCu // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения. 2018. Т.18. №2. С.367-370.
Подробно
10. Жданова О.В., Ляхова М.Б., Климко А.С., Пастушенков Ю.Г., Никитин М.С., Семенова Е.М., Карпенков А.Ю. Магнитная доменная структура сплавов CO-HF и CO-ZR // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения. 2018. Т.18. №2. С.363-366.
Подробно
11. Соколов Д.Н., Сдобняков Н.Ю., Колосов А.Ю., Новожилов Н.В. О проблеме технологического использования наночастиц металлов при изменении температуры // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения. 2013. Т.13. №1. С.131-135.
Подробно
12. Иванов В.В., Голубева Е.Н., Сергеева О.Н., Киселев Д.А., Пронин И.П., Некрасова Г.М. Релаксационные процессы в пленках ЦТС при ступенчатом изменении поляризующего поля // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения. 2018. Т.18. №1. С.50-53.
Подробно
13. Егоров А.В., Солнышкин А.В., Богомолов А.А., Силибин М.В., Гаврилов С.А. Температурная зависимость электропроводности и емкости гетероструктур Cu/ZnO/Si // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения. 2013. Т.13. №2. С.157-160.
Подробно
14. Иванов А.С., Богомолов А.А., Солнышкин А.В., Силибин М.В. Температурные зависимости фотоэлектрического отклика плёнок ZnO // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения. 2013. Т.13. №2. С.33-36.
Подробно
15. Комаров Н.В., Сергеева О.Н., Богомолов А.А., Пронин И.П. Электрический отклик структуры Pt/AlN/SiC/Si на воздействие светового потока прямоугольной формы // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения. 2013. Т.13. №1. С.118-120.
Подробно
16. Бакланова К.Д., Гудков С.И., Каменщиков М.В., Солнышкин А.В., Киселев Д.А. Электрофизические характеристики тонкопленочных структур на основе ниобата лития // Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения. 2016. Т.16. №4. С.87-90.
Подробно